BeamMap2 XYZΘΦ 掃描狹縫光斑分析儀

產(chǎn)品特點(diǎn)：

190至1150 nm，硅探測器

650至1800 nm，InGaAs檢測器

1000至2300或2500 nm，InGaAs（擴(kuò)展）檢測器

光束直徑?100 µm至?3 mm（擴(kuò)展的InGaAs為1.5 mm）

實(shí)時(shí)±1 mr實(shí)時(shí)散度和指向測量精度

USB 2.00.1 µm采樣和分辨率

實(shí)時(shí)多Z面掃描狹縫系統(tǒng)

實(shí)時(shí)XYZ輪廓，焦點(diǎn)位置

實(shí)時(shí)M2，發(fā)散，準(zhǔn)直，對準(zhǔn)

產(chǎn)品參數(shù)：

BeamMap2 XYZΘΦ 掃描狹縫光斑分析儀

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